Уникальный рентгеновский микроскоп, созданный в Томском политехническом университете (ТПУ), позволит ученым Сибирского кольцевого источника фотонов (СКИФ) опуститься до фундаментального предела в 50 нанометров. Прибор может применяться в нанорадиографии и нанотомографии, сообщили в пресс-службе вуза.
Микроскоп X-ray eye будет фиксировать параметры пучка синхротронного излучения, такие как размер и смещение, что позволит лучше настраивать системы управления для оптимизации исследований. Он оснащен функцией изменения поля зрения и быстрой смены монокристаллических экранов. Программное обеспечение, разработанное учеными ТПУ, улучшит сканирование образцов более чем в 300 раз по сравнению с аналогами.
Кроме того, микроскоп станет полноценным исследовательским инструментом для нанорадиографии и нанотомографии с разрешением до 270 нанометров и поможет проводить широкий спектр экспериментов, от изучения динамики флюидов в горных породах до анализа чипов.
Фото: ТПУ
