В Новосибирском государственном техническом университете (НГТУ) создан специализированный испытательный комплекс, предназначенный для контроля качества полупроводниковых приборов — варисторов, а также устройств защиты от импульсных перенапряжений. Разработка позволит проводить тестирование электрооборудования, используемого в бытовых приборах, на устойчивость к скачкам напряжения. Об этом сообщили в пресс-службе университета.
Инициатором проекта выступила компания АО "Хакель", которая специализируется на производстве средств защиты от импульсных перенапряжений. Предприятие планирует запустить в России новое направление — собственное производство варисторов. Для этого потребовалось не только создать производственную базу, но и разработать оборудование для испытаний, которое подтверждает соответствие продукции государственным стандартам.
Варисторы играют ключевую роль в защите электронных устройств и сетей от импульсных перенапряжений, вызванных грозовыми разрядами, коммутационными процессами или электромагнитными помехами. Благодаря нелинейной вольт-амперной характеристике (ВАХ), варисторы эффективно ограничивают перенапряжения, поглощая избыточную энергию и предотвращая повреждение оборудования. Эти компоненты широко используются в бытовой технике, промышленном оборудовании, телекоммуникациях, а также в системах автотранспорта и генераторных установках.
Испытательный комплекс включает три генератора и источник внешнего рабочего напряжения. К генераторам подключается специальный блок, который позволяет проводить тестирование. Одним из ключевых преимуществ разработки является возможность управления комплексом как вручную с панели генератора, так и дистанционно через персональный компьютер.
Кроме того, комплекс обладает широким диапазоном рабочих напряжений, что позволяет тестировать устройства с различными параметрами. Разработка оснащена системой блокировок, обеспечивающих безопасность оператора от поражения электрическим током. Конструкция испытательной камеры также защищает оператора от возможных осколков в случае разрушения тестируемых устройств.
Фото: Freepik
