Ученые Томского политехнического университета первыми в России разработали чип, позволяющий тестировать качество рентгеновского микротомографа. Размер чипа не превышает рисовое зернышко, вместе с тем он позволяет измерить, насколько томограф детально «видит» структуру внутри образцов. Изобретение можно применять при калибровке научного оборудования и для тестирования новых образцов.
Как отметил проректор университета по научной работе Алексей Гоголев: «На данный момент в России промышленные микротомографы с метрологической точки зрения не могут выступать в качестве средства измерения с разрешающей способностью до 1 мкм. Дело в том, что в системе государственных мер не зарегистрировано ни одной меры или тестового объекта, с помощью которого можно доказать, что томограф может отобразить структуры размером до 1 мкм внутри исследуемого объекта. Другими словами, сейчас доказать, что томограф «разглядел» какие-то детали в образце, невозможно. Изготовленный чип как раз и решает задачу измерения пространственного разрешения микротомографа. В России аналогов разработке нет, в мире подобные чипы изготавливаются только в Германии и Японии».
Чип является тестовым эталонным объектом. Все размеры структур, которые нанесены на него, проверены при помощи электронного микроскопа с точностью до 100 нм, что в 1000 раз меньше толщины человеческого волоса. Так, отсканировав чип в микротомографе, можно наглядно увидеть, какие структуры с каким размером можно различить на томограмме и, как следствие, быстро и точно определить разрешающую способность микротомографа.
Использовать чипы можно не только для тестирования томографов, но и для испытания новых алгоритмов реконструкции и протоколов сканирования.
Фото: пресс-служба Томского политехнического университета
